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涂层测厚仪 LEPTOSKOP 2042
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商品名称:涂层测厚仪 LEPTOSKOP 2042
商品编号 :BR004089
店铺:官方旗舰店
重量:0.000千克
上架时间:2022-05-09 14:50:01

产品描述


根据探头的不同,手持式设备具有清晰排列的显示屏,可确定可磁化基体上非磁性层的厚度(根据DIN EN ISO 2178)以及使用涡流原理确定非磁性导电基材上的非导电层的厚度 (根据DIN EN ISO 2360)。

外部探头具有多种型号,因此可以解决多样化的测试问题。


关键特点

  • 多种校准选项

  • 多种显示模式,更佳适应测量任务 *

  • 极限值输入和监控 *

  • 测量值存储 * 与 Windows 下一样简单的文件管理

  • 多样化的统计评估选项

  • Windows 程序中的数据传输,可选择使用 PC 程序软件 iCom 软件或者EasyExport

*视扩展阶段而定



版本


LEPTOSKOP 2042 (订货号: 2042.001)

设备扩展阶段

  • 模块“ Statistik”(订货号:2911.001)

  • 模块“ Statistik und Datenspeicher”(订货号:2911.002)

标准包装

  • Fe 基本包装 (订货号: 2042.901)

  • NFe 基套装(订货号: 2042.902)

  • Fe/NFE基套装 (订货号: 2042.904)

统计数据包

  • 统计数据包 Fe (订货号: 2042.911)

  • 统计数据包NFe (订货号: 2042.912)

  • Fe / NFe组合统计软件包 (订货号: 2042.914)

Data 数据包

  • Data数据包 Fe (订货号: 2042.921)

  • Data 数据包NFe (订货号: 2042.922)

  • Fe / NFe组合统计软件包 (订货号: 2042.924)




The LEPTOSKOP 2042 在坚固的保护箱中


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