检查并校准涂层测厚仪
涂层测厚仪操作简便，可通过高精度基体和校准膜片进行校准。对于不同应用和测量范围，可提供不同尺寸的铁磁体（Fe）和非铁磁体（NFe），以及一系列合适的校准膜片。 通过特殊的高精度校准膜片，可以进一步减小厚度测量公差。根据要求，校准膜可以提供单独的质量证书。
基体
铁磁体Fe（订货号：2815.001）
非铁磁体NFe（订货号：2815.003）
铁磁体Fe大（订货号：2815.002）
校准膜（推荐的标准套件和试块）
校准膜套件，测量范围0-300 µm，2片
（订货号：2715.992）
校准膜套件，测量范围0-1250 µm，6片
（订货号：2715.001）
校准膜套件，测量范围1250-4750 µm，3片
（订货号：2715.004）
校准膜套件，测量范围0.5-12.5 mm，4片
（订货号：2715.002）
校准膜套件，测量范围0-1250 µm，6片
（订货号：2715.003）
校准块，厚度15 mm，测量范围12.5-20 mm
（订货号：2715.151）
证明
校准膜证书，每片（订货号：2799.001）
优化微探头的重复性
微探头的设计特别适用于测量小物体、钻孔或曲面上的涂层厚度。为了进行连续对比测量，必须将探头放置在相同位置的相同位置。该定位设备就可非常方便地提供这样的操作。探头插入到导向器中，由气动控制。结果：即使在复杂的工件表面上也具有惊人的超高的重复精度。
所有微探头的定位装置（订货号：2820.002）
机械辅助装置，可稳定微型探头
这些简单的定位辅助装置可确保在手动测量过程中避免因探头倾斜或扭曲而导致的误差.
微型探头定位辅助装置
0°微型探头定位辅助装置（订货号：2998.001）
45°微型探头定位辅助装置（订货号：2998.002）
90°微型探头定位辅助装置（订货号：2998.003）
测量管型工件涂层
KARL DEUTSCH为测量管型工件的涂层提供了一个特殊的测量装置，该装置配备了一个特殊的探头。
用于管型工件的专用测量架（订货号：2820.999）
方便而坚固
移动式热敏打印机重量轻，结构紧凑且与不依赖网络。为测量仪器要求量身定制。 可连接到以下设备：
对于涂层测厚仪：
袖珍式涂层测厚仪LEPTOSKOP 2018, 2021, 2026
通用便携式涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042
裂纹测深仪：
RMG 4015
用于壁厚测量仪：
超声波测厚仪ECHOMETER 1075 数据型
超声波测厚仪ECHOMETER 1076 数据型
超声波测厚仪ECHOMETER 1076 TC 数据型
移动式热敏打印机（订货号：6010.201）
测量梳浸入液膜中
湿膜厚度计用于确定湿膜厚度（液体膜厚度）。 该测量提供了液层厚度的近似指示。 测量方法在EN ISO 2808标准中进行了描述。 测量范围：25至150 µm，175至300 µm，350至600 µm，650至900 µm，950至1400 µm和1500至2000 µm
湿膜规（六边形），不锈钢,
不锈钢, 25-2000 µm (订货号.: 2830.002)
评论晒单