特点
通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析
符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准
重量1.9 kg
一次电池充电可持续运行6个小时
测量点：3毫米Ø
高分辨率硅漂移检测器
用于户外的IP54等级
用作台式设备的可选测量箱
使用完整版WinFTM®软件进行数据统计
应用
测试大型样件，装配测量箱后也可以测试小样件
一次测试同时测定镀层的厚度和成分（例如，Fe上的ZnNi合金）
未知合金的无标准片测量
大型镀层零件（例如机器部件和外壳）的测量
电镀层的测试
电镀液金属含量的分析
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