特点
采用DIN ISO 3497和ASTM B 568标准，用于自动测量达到0.05μm的镀层和用于ppm级含量的材料
分析的通用X射线荧光光谱仪
3种不同的探测器可选（Si-PIN二极管；SDD 20 mm²；SDD 50 mm²）
3种可切换基本滤片
4种可切换准直器
测量点约为0.15mm
样品高度可达14cm
可编程XY工作台，定位精度为10µm
开槽箱体设计用于测量大的印刷电路板
经过认证的全面保护设备
应用
镀层和合金（也包括薄涂层和低浓度）的材料分析
电子行业，ENIG，ENEPIG
连接器和触点
黄金，珠宝和制表业
PCB制造薄金（几纳米）和钯镀层的测量
微量元素分析
高可靠性应用的铅（Pb）的测定（避免锡晶须）
对硬质材料涂层的分析
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