特征
XRF测试仪器符合 X射线标准 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568
无损测量≤ 0.1 µm (0.004 mils) 的超薄镀层的镀层厚度及材料分析
4x 可切换的准直器 (collimator): Ø 0.1 mm (3.9 mils), Ø 0.3 mm (11.8 mils),
Ø 1 mm (39.4 mils), Ø 3 mm (118 mils)
3x 可切换的初级滤波器
手动可调节样品台（剪叉式升降台），方便快速放置样品
由于其紧凑的设计，XRF仪器重量轻，只需要很少的空间
作为定位辅助的激光指示器能帮助快速找准样品
高分辨率彩色摄像机简化了测量区域的精确定位
通过用户友好的Fischer WinFTM®软件操作、评估测量并清晰显示测量值
应用
电子和半导体行业中引线框架、连接器或印刷电路板上的功能镀层
复杂多层镀层结构的测量
焊锡中铅含量的测量
NiP镀层中磷含量的测量
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