用于测试印刷电路板的专业XRF系列
今天的印刷电路板有大量的涂层接触点。为了保证焊接点的可靠性、耐腐蚀性和保质期，各种材料的各自厚度必须
保持正确的关系。为了监测这些严格的规格，能量色散X射线荧光是首选的方法。
通过PCB系列，Helmut Fischer为印刷电路板提供专门的测量解决方案。PCB专业人员为简单和雄心勃勃的测量任
务以及低至纳米范围的层厚测量提供可靠和快速的结果。
根据您的要求，有各种型号可供选择。给我们打电话吧! 我们在这里为你服务。
FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB
对于简单的测量和抽查，FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB是理想的XRF仪器。作为一款强大的入门级仪器，
该XRF光谱仪配备了一个比例计数管检测器，这使得测量时间很短。
用于标准应用的钨制微焦管
测量点Ø约0.15毫米
用于分析从钾（19）到铀（92）元素的比例计数器管检测器
费舍尔公司的专利：DCM方法，可简单快速地调整测量距离
固定的、宽大的样品台，用于印刷电路板，尺寸为610 x 610 mm (24" x 24")
样品高度为90毫米
完全受保护的仪器，根据德国辐射保护法获得型号认证
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB也配备了一个比例计数管。然而，这台XRF仪器有各种准直器和过滤器，
因此您可以为您的任务创造最佳的测量条件。在基本配置中，它有一个拉出式样品台，这简化了PCB的定位。根据
要求，还可以提供一个可编程的XY平台，用于自动测量。
用于标准应用的钨微焦管
可选择4倍可更换的光圈，以优化测量条件
可选择3倍可更换的过滤器，为更复杂的任务提供更好的激发条件
测量点Ø约0。 15 mm
比例计数管探测器，用于分析从钾(19)到铀(92)的元素
手动提取或可编程的测量平台，用于印刷电路板，尺寸610 x 610 mm (24" x 24")
样品高度。5毫米
费舍尔的专利：DCM方法，用于简单快速地调整测量距离
根据德国辐射防护法，作为完全受保护的仪器进行单独验收
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB
与XULM-PCB和XDLM-PCB相比，FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB配备了一个高灵敏度的硅漂移探测器
（SDD）、不同的孔径和过滤器。这也为按照ENIG和ENEPIG方法进行测试创造了绝佳的测量条件。在其基本配
置中，该仪器有一个弹出式样品台，简化了PCB的定位。根据要求，它可以配备一个用于大型PCB的样品台扩展。
钨或铬微焦管
4倍可更换光圈，用于优化测量条件
3倍可更换滤光片，用于更复杂任务的绝佳激发条件
测量点Ø约0。 15 mm
硅漂移检测器（SDD）用于分析从铝（13）到铀（92）的元素
Fischer的专利。DCM方法用于简单而快速地调整测量距离
手动抽拉式平台，适用于610 x 610 mm (24" x 24")的印刷电路板
样品高度为10 mm
根据德国辐射防护法，作为完全保护的仪器进行单独验收
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