CSK-IA试块主要用途： 1.利用R100曲面测定斜探头的入射点和前沿长度 2.利用Φ50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角 3.利用试块
直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况 4.利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围 5.利用25mm厚度调整纵波
探测范围和扫描速度 6.利用R50和100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度 7.利用Φ50、44和40三个台阶孔测定斜探头分辨力。
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