MarSurf CD系列测量站在轮廓测量领域树立了新的 标准。更短的测量时间，灵活的应用程序和简便的操作 意味着可以提高效率，保证质量。 新的探针系统结合了坚固性和精确性。 可变的测量 力甚至允许您使用MarSurf CD测量从Rz 2μm起的粗糙 度。较低的工件高度和集成的TY调节也可确保稳定的测 量起点。因此，即使在接近生产时使用，MarSurf CD系 列测量站也可提供可靠而精确的结果。 0.75µm的低接 触误差允许较小的生产公差
快速测量和转换
•由于定位和测量速度高，测量时间短
•Z轴具有完整的CNC功能，可实现自动化操作
•借助磁性安装架，无需工具即可快速更换测头系 统–无需重新校准
•自动探头臂检测可加快测量程序并防止测量错误
•可选：通过CNC驱动器控制TY轴，以实现自动测量
灵活多样
•工件支撑板甚至可以容纳大型工件
•通用性大的测量范围–标配70mm，使用超长探针臂可达到100mm
•较大的处理灵活性，得益于孔径为50mm的支撑板和插 入式导向挡块
•广泛的探头臂和配件
•可以从Rz 2 µm进行粗糙度测量
技术参数
不同的机器型号
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